製品のご案内

LD製造装置

高速・高精度な搬送および位置決めが可能なマシンから、テスター、エージング装置まで、豊富なラインナップを揃えています。

ポイントスクライブ装置

ポイントスクライブ装置

LD、LED用の半導体基板をダイヤモンドカッターで自動スクライブします。

ブレーキング装置 フルオート機

ブレーキング装置 フルオート機

スクライブが完了したLD、LED用半導体基板やバー状チップを自動ブレーキングします。

ブレーキング装置 セミオート/マニュアル機

ブレーキング装置 セミオート/マニュアル機

スクライブが完了したLD、LED用半導体基板やバー状チップをブレードで自動ブレーキングします。

LDチップテスター DCLT-8500

LDチップテスター DCLT-8500

光半導体パッケージ製品の良否判定を行う装置です。

バーテスター DPST-310

バーテスター DPST-310

バー状態の半導体レーザーダイオードの良否判定する装置です。

CANテスター (低出力対応)DPLT-1300M

CANテスター (低出力対応)DPLT-1300M

電気特性、光出力特性、FFP特性、波長特性等を自動で測定するマニュアル式の装置です。

パルステスターユニット DAPT-2100

パルステスターユニット DAPT-2100

I-L評価を行うためのユニットです。

LDエージング装置 DSLD-1000Hシリーズ

LDエージング装置 DSLD-1000Hシリーズ

主に短波長LDの信頼性評価を行う装置です。

青色LDエージング装置 DSLD-480H-HV

青色LDエージング装置 DSLD-480H-HV

主に短波長LDの信頼性評価を行う装置です。

LDエージング装置 DSPE-100L

LDエージング装置 DSPE-100L

主に長波長用LDの信頼性評価装置です。

LDエージング装置 DSLD-100SHP

ACCにてデバイスに通電する装置です。

LDエージング装置 DSLD-500VC

主にVCSEL用デバイスの評価試験装置です。

パルスエージング装置 DSLD-100HP

パルスエージング装置 DSLD-100HP

短波長LDに対して短パルスでの信頼性評価を行う装置です。

LDエージング装置 DSLD-30VC(VCSEL専用)

1デバイス内に実装された複数の素子に対して並列駆動をさせ各素子の電圧値を測定します。

CANテスター(高出力対応) DPLT-8500

CANテスター(高出力対応) DPLT-8500

レーザーダイオードを測定ステージへ手置きセットし、電気特性、光出力特性、FFP特性、波長特性などを自動で測定します。

卓上型スクライバー(DPS-106)

卓上型スクライバー(DPS-106)

スクライブラインの位置合わせおよびアライメントを単眼鏡から作業者が合わせるマニュアル機です。

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